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3D锡膏测厚仪SH-110 3D
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产品: 浏览次数:1813D锡膏测厚仪SH-110 3D 
品牌: 新加坡TESHERCK
型号: SH-110 3D
单价: 面议
最小起订量:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 7 天内发货
有效期至: 2011-08-26 [已过期]
最后更新: 2010-11-25 09:21
详细信息
3D锡膏测厚仪SH-110-3D的功能特点: 1、3D扫描测量 2、3D模拟重组 3、PCB多区域编程扫描 4、自动化、重复性测量 5、X、Y大扫描范围 6、Z轴伺服,软件校正 7、板弯自动补偿 8、五档倍数调节 9、强大SPC功能 10、产品及产线管理 11、自动分析提取锡膏 12、人性化操作 应用范围: 1、锡膏厚度&外形测量 2、芯片邦定,零件共平面度,BGA/CSP尺寸和形状测量 3、钢网&通孔之尺寸及形状测量 4、PCB焊盘,图案,丝印之厚度及形状测量 5、IC封装,空PCB变形测量 6、其它3D量测、检查、分析解决方案 技术参数: 工作平台:可测量最大PCB:390×300mm (其他尺寸工作平台可订制) XY:扫描范围:390×300mm 测量光源:精密红色激光线,亮度可调 照明光源:高亮白色LED灯圈,亮度可调 XY扫描间距:10μm-50μm,可设定 扫描速度:60FPS 扫描范围:任意设定,最大390×300mm XY移动速度:60FPS 高度分辨率:最高1μm 重复测量精度:±2μm 镜头放大倍数:20X-110X,5档可调 测量数据密度:33万像素/视场+40细分亚像素/像素 Z轴板弯补偿:10mm 工作电源:110V,60Hz/220V,50HzAC 设备尺寸:870×650×450mm 自动功能:可编程,自动重复测量,1键到设定位置,自动测量 测量模式:单点高度测量,选框内平均高度测量,3D视野自动高度测量,可编程,多区域3D自动高度测量,可编程,平面几何测量 3D模式:3D模拟图,X-Bar&chart SPC模式:直方图分析,Ca/Cp/Cpk/Pp/Ppk,数据分析,全SPC功能,资料导出,预览,打印等,产品,产线,数据 分析,管理 其他功能:软件板弯补偿,测量产品,生产线管理,参数校正,密码保护,选框记忆 PC及操作系统:双核高速CPU+独立显卡,Windows XP 设备重量:55KG 指示灯与按键:红黄绿指示灯,紧急停止开关,报警蜂鸣器
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